光束分析儀

BP350光束分析儀

光束分析儀也稱為光束輪廓儀,是一種用來測量雷射光束在一個截面上的光強分佈,不僅能測量光束的外形,還可以測量得到光強的細節分佈。

BP350是一系列基於CMOS相機的光束分析儀,可測量的波長範圍是350-1200nm。提供三種不同的感光元件尺寸,分別為1/1.2",1",1/2.5",最大功率為1W(裝配0.1%衰減器時)。可對雷射光束的尺寸、圓度、能量分佈、質心、指向穩定性進行精確測量。

優勢:
  • 多種感光元件尺寸可選
  • 多種衰減器靈活搭配
  • 體積小巧,便於攜帶
  • 專業軟體,操作簡易
應用:
  • 測量雷射光束的外形、圓度、質心、能量分佈和指向穩定性

規格表

型號 BP350-01 BP350-02 BP350-03
感光尺寸 1″ 1/1.2″ 1/2.5″
感測器類型 CMOS CMOS CMOS
波長範圍(nm) 350-1200 350-1200 350-1200
最小可測光束(um) 55 55 26
最大可測功率*(W) 1 1 1
幀數 60 60 60

軟體介面


尺寸圖

  • 地址:台北市松山區民權東路三段142號9樓903室
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