光束分析儀

BP350光束分析儀

光束分析儀也稱為光束輪廓儀,是一種用來測量雷射光束在一個截面上的光強分佈,不僅能測量光束的外形,還可以測量得到光強的細節分佈。

BP350是一系列基於CMOS相機的光束分析儀,可測量的波長範圍是350-1200nm。提供三種不同的感光元件尺寸,分別為1/1.2",1",1/2.5",最大功率為1W(裝配0.1%衰減器時)。可對雷射光束的尺寸、圓度、能量分佈、質心、指向穩定性進行精確測量。

優勢:
  • 多種感光元件尺寸可選
  • 多種衰減器靈活搭配
  • 體積小巧,便於攜帶
  • 專業軟體,操作簡易
應用:
  • 測量雷射光束的外形、圓度、質心、能量分佈和指向穩定性

規格表

型號 BP350-01 BP350-02 BP350-03 BP350-04 BP350-05 BP350-06 BP350-07
感光元件尺寸 1″ 1/1.2″ 1/2.5″ 1/2.7″ 1/1.7″ 1/2″ 1/2″
像素 2048×2048 1920×1200 2592×1940 1280×1024 4000×3000 1280×1024 400×300
波長範圍 266-1200nm 266-1200nm 266-1200nm 266-1200 nm 390-1050 nm 0.4-1.7μm 8-14 μm
最小可測光束 55μm 55μm 20μm 40μm 20μm 50μm 170μm
損傷閾值 10W/cm²(ND4) 10W/cm²(ND4) 10W/cm²(ND4) 1W/cm² 10W/cm²(ND4) 10W/cm²(ND4) 10W/cm²(ND4)
快門類型 Global shutter Global shutter Rolling shutter Global shutter Rolling shutter Global shutter Rolling shutter
通訊介面 USB 3.0 USB 3.0 USB 3.0 Micro B USB 3.0 GigE GigE

軟體介面


尺寸圖

  • 地址:台北市松山區民權東路三段142號9樓903室
  • 電話:(02)2755-1976
  • 傳真:(02)2755-1971
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