光學配件
GIE-LAMAN-STAGE拉曼支架工程圖面
固體樣品測試支架,可調範圍0-130mm GIE-LAMAN-STAGE固體樣品測試支架,採用立式設計,確保樣品與光源保持垂直;樣品臺上配有消光孔,能有效的減少雜散光,同時非常方便取放樣品,並且光源高度可調,可調範圍0-130mm,適用於不同厚度的樣品。