拉曼支架

拉曼支架

GIE-LAMAN-STAGE
拉曼支架工程圖面

固體樣品測試支架,可調範圍0-130mm GIE-LAMAN-STAGE固體樣品測試支架,採用立式設計,確保樣品與光源保持垂直;樣品臺上配有消光孔,能有效的減少雜散光,同時非常方便取放樣品,並且光源高度可調,可調範圍0-130mm,適用於不同厚度的樣品。

產品應用
  • 平面固體樣品的透過率或者吸光度的測量。
產品優勢
  • 立式設計,確保樣品與光源垂直。
  • 通過齒條齒輪高低調節,帶鎖緊功能精准定位。
  • 高度可調,可調範圍0-130mm,適用於不同厚度的平面固體樣品。

  • 地址:台北市松山區民權東路三段142號9樓903室
  • 電話:(02)2755-1976
  • 傳真:(02)2755-1971
  • E-mail:sales@gieoptics.com