光譜應用

光譜儀的基本架構

光譜儀的選擇

根據不同的量測應用,選擇適合的光譜儀

型號 標準型光譜儀
可見紫外光光譜儀
Mars HS2000+/HS3000+/HS6000+
高速版光譜儀
可見紫外光光譜儀
HP3000 Plus
高解析度光譜儀
(4096像素/3648像素/2048像素)
HRS4000/HRS3000/HRS2000
高解析度高靈敏度光譜儀
HRS2000-BT (2048像素)
近紅外光光譜儀
(128像素/256像素/512像素)
Explorer NIR
照片
規格 波長範圍: 180-1100nm (可客製)
積分時間: 0.5ms-65sec
感測器:
Hamamatsu S11639-1
狹縫=10um/25um (50um/100um/200um)
光學解析度: 0.5-12nm
波長範圍: 180-1100nm(可客製)
積分時間 :0.1ms-65sec
感測器:
Hamamatsu S11639-1
狹縫=10um/25um (50um/100um/200um)
光學解析度: 0.5-12nm
資料傳輸速度, 2ms/frame
波長範圍: 200-1100nm (可客製)
感測器:
Toshiba Sensor: 3648pixels
Hamamatsu Sensor:4096pixels / 2048pixels
狹縫=5μm /10μm
光學解析度: 0.1-0.2nm
波長範圍: 950-1700nm/900-2500m
感測器:
Hamamatsu InGaAs 128 pixels Hamamatsu InGaAs 256 pixels Hamamatsu InGaAs 512 pixels
狹縫=25um /50um
光學解析度: 4-6nm
型號 高靈敏度光譜儀
Venus Pro-UV/ Venus Pro -NIR
製冷型近紅外光譜儀
Explorer NIR-TEC
(512pixels/256pixles)
製冷型紫外可見光光譜儀
SR2000-TEC/SR1000-TEC
(2048pixels/1024pixels)
高解析度光譜模組
MS2000/MS3000
照片
規格 波長範圍 : 180-1100nm (可客製)
積分時間: 1ms-65sec
感測器:
Hamamatsu S10420
Back thinned CCD
Hamamatsu S16010
Back thinned CCD
狹縫=50μm
光學解析度:0.35nm - 1.5nm
波長範圍: 900-2500um
積分時間: 1ms-65sec
感測器:
Hamamatsu detector with TE-cooling
像素大小:25×250μm
光學解析度: 依照客戶的需求範圍而定
波長範圍: 200nm-950nm(預設規格)
積分時間: 8ms-3600sec
感測器:
Hamamatsu back-thinned CCD sensor
波長範圍: 200nm-1100nm
像素: 1024×58 Pixels
像素大小: 24µm×24µm
狹縫: 25um
光學解析度: ~1nm
波長範圍: 180-1100nm(可客製)
積分時間: 0.5ms-65sec
感測器:
Hamamatsu S11639-1
狹縫=10μm/25μm (50μm/100μm/200μm)
光學解析度 : 0.5-12nm

光譜儀應用

電漿監控

型號: Mars HS2000+
波長範圍: 180-900nm,
狹縫=10μm,
光學解析度 ~ 0.8nm

型號: HRS4000
波長範圍:180-1000nm 可客製
狹縫=5μm,
光學解析度 ~ 0.1nm

穿透率/吸收度量測

組態一:

您可以直接使用我們的全套完整的量測系統(SEM-3000 Measurement System),即可量測固體/溶液的穿透率或是吸收度。

組態二:

搭配客製化量測治具,量測不同大小尺寸樣品的穿透率。

樣品之穿透率光譜圖

樣品之吸收度光譜圖

反射率量測

可以使用不同的反射率量測治具,量測透明樣品(玻璃鍍膜)以及不透明樣品(wafer)之反射率。

濃度量測

1.比爾法則計算濃度

2.根據已知濃度的測試資料計算濃度

3.建立檢量線

相對輻射強度和色度量測

絕對強度和色度量測

能量量測

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