量測治具

比色皿量測治具

比色皿支架用於固定不同光程的比色皿,可以通過SMA905 接頭的光纖耦合光纖光譜儀和光源,組成小型化的光譜系統,用於各種液體樣品的穿透率和吸光度測量。可以選配黑色陽極氧化鋁材質的外罩(標配不含),用於遮罩環境光。根據光路的不同,可以分為直通型比色皿支架和四通道型比色皿支架。

直通型比色皿支架,通常用於液體的吸光度和濃度測量、以及液體的透過率測量。根據不同的測試要求,我們又提供了兩個版本,其中一個版本設計了一個擋光槽,方便用戶在測量暗光譜;而另一個版本則是緊配版,只要比色皿放置其中後,位置將不再有任何移動,用於一些對於比色皿的放置位置的一致性要求較高的測試。

四通比色皿支架設計也有緊配裝置,比色皿置入時可以緊貼,同時還設計有一個濾光片狹縫,在利用高通濾光片進行螢光測量時特別有效。

型號及規格表

型號 GIE-CVFTR-01 GIE-CVHR-02 GIE-4CHF-03(螢光量測用)
類型 直通式,帶濾光片槽 直通式,緊配版 四通道緊配版
比色皿槽 (W× L) 12.5 mm × 12.5 mm (W× L) 12.5 mm × 12.5 mm (W× L) 12.5 mm × 12.5 mm (W× L)
光纖接頭 2 個 SMA接頭,帶準直透鏡 2 個 SMA接頭,帶準直透鏡 4 個 SMA接頭,帶準直透鏡
尺寸 140mm × 140 mm× 40 mm 140mm × 140 mm× 45 mm 140mm × 140 mm× 45 mm
濾光片槽 5.5mm

光纖支架

GIE-FHR50

反射樣品支架可用於固體和粉末樣品材料多角度反射率的測量。我們提供了單臂、雙臂和倒置三種不同的形態,方便用戶應用於不同的測試應用中。GIE-FHR50-01單臂形態主要用於固定Y型光纖探頭,可測量光垂直入射的情況。GIE-FHR50-02雙臂形態主要用於固定兩根石英光纖探頭,可測量光不同角度入射的情況。單雙臂形態可以方便地互相切換,具備高靈活性和強實用性。GIE-FHR50-03倒置式反射支架更加適合於需要精確測量光譜反射率的場合,可以保持樣品至反射光纖的距離和標準參比樣品至反射光纖的距離精確相等。

產品規格:
  • 可調範圍:50mm
  • 高度調節方式:通過固定螺釘
  • 光纖接頭:SMA905 介面
  • 固定方式:直接放置在平臺上或螺釘固定在光學平臺上
  • 可選配在入光口處加裝聚光透鏡
型號 GIE-FHR50-01 GIE-FHR50-02 GIE-FHR50-03
形態 單臂 雙臂 倒置
光路方向 垂直 多角度可調 垂直
底盤大小(mm) Φ150 × 13
底盤可定位尺寸(mm) 直徑為Φ40,Φ60,Φ80,Φ100

積分球支架

GIE-ISHR-xx

反射式積分球的樣品口和入射光進口成一定角度關係,如果將積分球直接置於平臺上,將造成測量的諸多不方便以及不能包裝測量的穩定性,該積分球支架可以將積分球倒置固定,確保樣品置於樣品的口的正上方,同時非常方便光纖的連接和固定,極大地提高了測量的便捷性和穩定。

GIE-ISHR-01 適用於1吋反射式積分球。
GIE-ISHR-30 適用於30mm反射式積分球。
GIE-ISHR-01 適用於2.5吋反射式積分球。

螢光量測治具

FL4CSH-01

螢光量測治具,四通道光路,適合液體螢光量測,也可適用穿透率量測。

45°漫反射微型反射量測治具

GIE-45DR-01

漫反射微型反射量測治具,適用於測量平面樣品的漫反射光譜和螢光光譜。它具備一組45度夾角的反射光路,並可加裝兩片直徑<10mm的濾光片。 在螢光測量應用中,加裝一片濾光片在激發光路,可用在消除激發光源除主峰外的雜峰;而另一片加裝於收光光路,可用於濾除螢光光譜中的激發光譜。

型號 GIE-45DR-01
光路 90°入射,45°反射
光纖接頭 SMA905
準直鏡 入射與反射光路均裝有準直鏡
濾光片 可選配
尺寸(mm) 48 x 34 x 15

尺寸圖

產品的光路說明

左邊的光纖接光源,通過光纖準直鏡將發散光轉換成平行光,再透過濾光片照射在樣品上。另一路則是樣品反射或者激發的光通過濾光片再到準直鏡聚焦至光纖,然後接到測量設備進行測量分析。

  • 地址:台北市松山區民權東路三段142號9樓903室
  • 電話:(02)2755-1976
  • 傳真:(02)2755-1971
  • E-mail:sales@gieoptics.com